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能散型X射線熒光光譜儀

簡介
能散型X射線熒光光譜儀:用X射線管產生原級X射線照射到樣品上,所產生的特征X射線(熒光)這節進入SI(LI)探測器,便可以據此進行定性分析和定量分析,第一代是1969年問世的。近幾年來,由于商品ED-XRF儀器及儀表計算機軟件的發展,功能完善,應用領域拓寬,其特點、優越性日益得到認識,發展迅猛。能量色散型熒光光譜儀一般由光源(X-線管),樣品檢測系統等組成,與波長色散型熒光光儀的區別在于他不分光晶體;

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能散型X射線熒光光譜儀

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